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Mesure de la déviation du levier [ modifier | modifier le code] Il existe plusieurs façons de mesurer la déviation du levier. La plus courante, et de loin, est la mesure via réflexion d'un laser. Principe de fonctionnement d'un microscope à force atomique La pointe est alors montée sur un levier réfléchissant. Un rayon laser se réfléchit sur le levier. Si le rayon laser dévie, c'est que le levier s'est infléchi (dans un sens ou dans l'autre), et donc est révélateur des forces d'interactions entre la pointe et la surface. La mesure de la déviation de la pointe passe donc par celle de la position du faisceau laser réfléchi, ce qui s'effectue au moyen d'un quadrant de photodiodes - c'est-à-dire une photodiode circulaire divisée en quatre parts égales, selon deux diamètres. Quand le faisceau n'est pas dévié, il frappe au centre du quadrant, et donc illumine également les 4 photodiodes. Si le faisceau laser vient à être dévié vers le haut, les deux photodiodes du haut recevront plus de lumière que celles du bas, et il apparaît donc une différence de tension.
Elle permet d'analyser des zones allant de quelques nanomètres à quelques microns de côtés et de mesurer des forces de l'ordre du nanonewton. Le microscope à force atomique permet donc de balayer la surface d'un échantillon grâce à une pointe très fine, positionnée à l'extrémité libre d'un micro- levier flexible, pouvant se déplacer dans toutes les directions de l'espace, grâce à un tube piézoélectrique. L'analyse des flexions du micro-levier permet de déterminer l'exact parcours de la pointe, ainsi que la mesure des forces d'interactions intervenant entre elle et l'échantillon. Capable de définir la topographie de surface, l'AFM est dans ce cas assimilable à un profilomètre. La microscopie à force atomique se décline sous trois modes principaux qui sont: le mode contact; le mode contact intermittent ou mode Tapping; le mode non contact. Les différents types de forces mesurées dépendent de la variation de la distance entre la pointe et la surface analysée. C'est la raison pour laquelle, en fonction de ces trois modes découlent différents types de mesures et ainsi différentes applications.
Brève introduction du microscope à force atomique Caractéristiques du microscope à force atomique: 1: Intégration optique, mécanique et électronique, structure de contour simple. 2: La sonde à balayage intégrée et la platine échantillon améliorent la capacité anti-interférence. 3: Le laser de précision et le dispositif de positionnement de la sonde facilitent le changement de sonde et le réglage du point. 4: Différent avec d'autres fournisseurs, notre appareil modifie la sonde d'échantillon en mode d'échantillonnage en mode d'échantillon d'approche. C'est un moyen très efficace de protéger le cantiliver des bris d' opération. 5. Le moteur pas à pas automatique contrôle l'approche verticale de la sonde de prélèvement pour obtenir un positionnement précis de la zone de balayage. 6. La zone d'intérêt de balayage d' échantillon peut être librement déplacée à l'aide d'un étage XY à large plage de haute précision. 7. Piézo-scanner haute précision et large gamme, choix multiple selon la précision et la portée de numérisation.
Fournisseurs industriels Chimie, laboratoires et santé Equipement pour la chimie et la parachimie Microscopes de laboratoire... MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE: NANO-OBSERVER MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE: NANO-OBSERVER SCIENTEC Présentation Le Nano-Observer est un Microscope à Force Atomique. il possède le meilleur rapport prix/performance. Il peut-être utilisé aussi bien en recherche qu'en enseignement et en industrie. Le Nano-Observer est le seul microscope à force atomique qui offre un ensemble de modes électriques puissants: HD-KFM, ResiScope et Soft ResiScope. Utilisant les dernières technologies, il permet de mesurer quantitativement les propriétés des échantillons électriques à l'échelle nanométrique avec une extrême précision. En plus des modes électriques avancés, il combine également différents environnements tels que la température, les mesures liquides ou le contrôle de l'environnement... Caractéristiques Plage de balayage: XY 100μm (tolérance +/- 10%) Plage: Z 9μm (tolérance +/- 10%) Résolution du variateur: XY 24 bits - 0.
8. L'intégration de plusieurs circuit de commande de mode de numérisation, de coopérer avec le logiciel système. 9. Suspension à ressort simple et pratique qui amélioré la capacité anti-parasite. Le mode de travail FM-Tapping, le contact en option, la friction,, magnétique ou électrostatique de phase Taille Φ≤90 mm, H≤20 mm Scanningrange 20 Mmde XYdirection, 2 Mm en direction z. Scanningresolution 0. 2Nm en sens XY, 0, 05Nm dans le sens Z Movementrange de l'échantillon ±6, 5 mm. Largeur d'impulsion des Approches du moteur 10±2ms Point d'échantillonnage de l'image 256×256, 512×512 Grossissement optique 4X Résolution optique 2, 5 Mm Taux de numérisation 0. 6Hz~4. 34Hz Angle de balayage 0°~360° Contrôle de numérisation 18-bit D/A dans le sens XY, 16-bit D/A dans le sens Z Échantillonnage de données 14-bitA/D, double16 bits A/d'échantillonnage synchrone multi-canaux La rétroaction Rétroaction numérique DSP Taux d'échantillonnage de rétroaction 64. 0KHz Interface informatique USB2. 0 Environnement de fonctionnement Windows98/2000/XP/7/8 FAQ 1.
Le mode contact consiste à utiliser les forces répulsives: la pointe appuie sur la surface, elle est donc repoussée du fait du principe de Pauli, et le levier est dévié. La rétroaction s'effectue sur la mesure de la direction de la déviation. Le mode Tapping, de loin le plus utilisé, consiste à faire vibrer le levier à sa fréquence propre de résonance (typiquement de l'ordre de la centaine de kHz), avec une certaine amplitude. Lorsque la pointe interagit avec la surface, l'amplitude décroît (parce que la fréquence de résonance change). La rétroaction se fait alors sur l'amplitude d'oscillation du levier. Le mode modulation de fréquence a été initialement utilisé avec en moyenne des forces attractives, avec des exemples de résolution atomique. Plus délicat à gérer, il permet contrairement au mode modulation d'amplitude de séparer directement l'effet des forces conservatives et dissipatives. Il est essentiellement utilisé sous vide. La rétroaction s'effectue soit sur la déviation soit sur la fréquence de résonance..
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